Atom probe field-ion microscopy - 30 years of atomic-level analysis
- Författare
- (Editors: M.K. Miller and M.G. Burke.)
- Språk
- Engelska
Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
---|---|---|---|---|
Elsevier | 2000 | USA, New York | 254 sidor. ill. |
Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
---|---|---|---|---|
Elsevier | 2000 | USA, New York | 254 sidor. ill. |